精密扫描不受材料和形状影响

  • 准确测量陡坡和斜面
  • 一流的XY分辨率确保即使是最小的特征也能被捕捉到
  • 在透明或高反射表面上没有数据丢失

高分辨率彩色观测捕捉真实的图像

  • 材料的纹理，形状，和其他表面条件清楚地显示
  • 彩色图像可以立即确定测量的位置
  • 高达28,800倍的高倍放大成像提供了额外的分析功能

292种不同的测量工具允许无与伦比的表面分析

一个系统可以进行从轮廓测量到粗糙度表征的各种分析

测量平坦和不平坦的表面

毫米,测微计,在一个设备中进行纳米测量

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