连接器是非常普遍的在电子设备和有各种各样的类型。本节介绍了典型问题出现在连接器,包括腐蚀、氧化、磨损、外国粒子粘附、焊接缺陷、泛碱;所有这一切可能会导致失败。
本节还包括应用实例使用日本基恩士的最新4 k数字显微镜来克服常见问题与检查连接器。

观察和测量的连接器

多样化的连接器类型和质量的重要性

连接器和不同类型的连接器的数量迅速增加的扩大使用数码设备。
常见的连接器类型包括USB、注册插孔- 45、LC / SC, XLR, RCA, HDMI;所有这些都需要严格的检查,以确保性能可靠。

除了为消费者使用连接器,许多通用和专用连接器用于各种工业领域。接触失败和绝缘缺陷不仅会导致消费者的投诉,但也可能防止专业人士完成他们的任务。
连接器还用于特殊电气部分,如在汽车线束越来越电子控制的重要组成部分。任何缺陷和腐蚀的连接器可能导致事故。这就是为什么需要连接器产品高质量和可靠性。欧宝官网开户

典型的连接器的问题,原因,和解决方案

以下是典型的连接器的问题会导致接触故障,电气连接失败,或有缺陷的绝缘影响质量和性能。

腐蚀/氧化
现象:这个问题发生在镍、铜和其他金属的贱金属腐蚀和分离表面形成沉积。
可能的原因:高温、高湿和腐蚀性气体
行动:板连接器与黄金或应用腐蚀和抗氧化剂。
穿
现象:这个问题时发生振动或冲击导致滑动接触部分和随后磨损。
可能的原因:振动,影响非常频繁的插入和删除
行动:使用连接器宽高接触压力和接触表面。
粘附的外国粒子
现象:这个问题发生在外国粒子坚持连接器和阻碍电传导。
可能的原因:侵入的气体或微粒进入连接器
行动:增加密封的程度和密封性。
焊接缺陷
现象:这个通用术语是指绝缘缺陷或缺陷造成的电气连接不当焊料的应用。
可能原因:焊接裂缝或裂缝,锡球,锡桥,和其他缺陷
行动:检查焊接加热温度和时间。
泛碱
现象:这个问题发生在镀锡的结晶形式的胡须和生长。泛碱导致绝缘破裂,导致短路。
可能原因:金属内部应力
行动:板连接器。
迁移
现象:这个问题发生缓慢运动的离子导体,导致介质击穿。
可能的原因:高温、高湿度
行动:应用氟膜等防潮涂料。

连接器的问题的观察和评价和4 k数字显微镜的应用实例

近年来,连接器已变得更小、更复杂。有些连接器非常流行多年,然后几乎是在一夜之间变得过时由于一个产品或产品改变他们的连接器类型的家庭。欧宝官网开户应对这样的需求快速变化,连接器行业依赖于快速研发周期和快速质量控制检查。

显微镜通常用于连接器检查和缺陷分析。传统的显微镜,然而,通常有以下问题:

  • 图像只专注于一个目标的一部分,由于三维的连接器。
  • 反光的金属部分会干扰观察。
  • 立体显微镜只提供平面视觉检查,很难确定问题的原因。
  • 需要单独的计量器具的显微镜只能用于观察

日本基恩士不断改进其数字显微镜在过去的20年里从客户使用反馈。
这一过程的结果是VHX系列高清4 k数码显微镜,不仅克服了传统的问题,但也提供额外的特性和功能改善工作流程的效率。
本节介绍了连接器的最新例子观察、测量和分析使用VHX系列。

工业连接器终端的高分辨率观测

由于传统显微镜的景深的局限性,才有可能将一个三维目标的一部分成为关注焦点。同时,有时很难观察到的微观缺陷由于分辨率不足。

VHX系列4 k数字显微镜使用一个人力资源支持4 k图像的镜头,景深,大约是20倍比传统的显微镜,高分辨率和低噪声4 k CMOS。
这允许用户捕获全心全意,高分辨率图像在三维连接器终端。细节之前不能被视为是可以很容易地观察和分析。

连接器终端使用VHX系列的高分辨率观测4 k数码显微镜
观察和评价一个工业连接器终端
观察和评价一个工业连接器终端
缺陷分析影响终端
缺陷分析影响终端

评价插销的形状

捕获的保持图像时,VHX系列也捕捉三维高度信息,可用于评估连接器引脚的形状。
高度精确的三维图像显示高度彩色地图,它允许用户方便地看看针的高度是一致的。

VHX系列,一个单元就需要彻底检查连接器。视觉观察,2 d / 3 d测量,并迅速报告创建都可以执行,大大提高流程效率,减少工作时间。

3 d显示和测量连接器使用VHX针系列的4 k数码显微镜
3 d显示连接器的针
3 d显示连接器的针
剖面测量连接器别针
剖面测量连接器别针

观察深连接器和终端

一些工业连接器在长期住房或盾牌有针和隐藏式地区的终端。传统显微镜不能使整个目标聚焦,从而无法检查整个部分。

VHX系列4 k数字显微镜20 x大景深比传统显微镜和执行深度组成的能力将整个目标成为关注焦点。这提高了检验过程的效率和消除盲点。
此外,使用自由角度观测系统使倾斜从任何角度观察而不需要重置目标在舞台上。甚至长连接器可以快速观察的最佳角度。

观察一个连接器,终端使用的深度成分VHX系列4 k数码显微镜
正常(倾斜观测)
正常(倾斜观测)
深度组合(倾斜观测)
深度组合(倾斜观测)
正常的
正常的
深度的作文
深度的作文

观察镀卷终端和连接器

一些插脚和终端镀金,以防止有缺陷的电气连续性和绝缘缺陷引起的腐蚀、氧化、泛碱。镀反射的表面,然而,经常有眩光,很难观察和正确评估表面条件。

VHX系列4 k数字显微镜除眩光和ring-reflection删除功能。这使用户能够清晰地观察到表面镀条件的插脚,即使他们高度反光的,复杂的几何图形。

观察镀表面使用VHX系列的4 k数码显微镜
上:正常/低:眩光和ring-reflection移除
上:正常/低:眩光和ring-reflection移除
左:正常/右:眩光和ring-reflection移除(200倍)
左:正常/右:眩光和ring-reflection移除(200倍)

评价截面连接器

VHX系列4 k数字显微镜创造了一个高分辨率50000 x 50000像素的图像通过高速图像缝合。只是把图像缝合按钮轻松快速地将高倍率图像自动拼接,没有偏差。

横截面和样品表面不规则可以快速在低放大率缝制出来的,那么可以使用高倍放大检查小细节,同时跟踪一下被浏览的部分目标。

横截面观察插销使用VHX系列的4 k数码显微镜
缝焊接插销的横截面的形象
缝焊接插销的横截面的形象

观察镀表面的凹痕

一个连接器是由各种各样的材料,如金属和树脂。很难确定一个区域的照明条件,包括高度反光的部分,如镀表面和铜箔磁带,因为这些闪亮的眩光干扰观察表面凹陷等缺陷。

VHX系列4 k数字显微镜有一个多功能照明功能,自动捕捉数据的多个图像在一个按钮的推的全方位照明。然后,图像可以选择最适合观察中捕获的图像,这极大地提高了工作效率和观测精度。甚至凹陷,很难确定最佳照明条件下,现在可以很容易观察到。
此外,图像数据与不同照明条件下自动保存,在需要时可以回忆,消除了需要重新塑造样本在稍后的日期。

观察影响镀表面使用VHX系列4 k数码显微镜
左:图像多功能照明/右:正常
左:图像多功能照明/右:正常

连接器的焊接缺陷定量评价电极

焊接缺陷,如坑和裂缝,在连接器电极不仅可以导致有缺陷的电气连续性,但同时也增加了电阻缺陷点。电阻的增加可以导致加热和点火的缺陷点。传统的显微镜,然而,不能定量评估缺陷由于焊料眩光。

VHX系列4 k数字显微镜除眩光和ring-reflection删除功能,从而使观察缺陷区域和清晰的图像没有眩光。捕获的观测图像还可以用于高精度三维形状测量和在指定的区域轮廓测量。这样的测量使缺陷的定量测定和评估区域更高的效率。

剖面测量焊接缺陷的一个电极使用VHX系列4 k数码显微镜
剖面测量焊接缺陷的一个电极使用VHX系列4 k数码显微镜

的最优显微镜观察、测量和评估连接器

VHX系列4 k数字显微镜大大有别于传统的光学显微镜,它可以清楚地观察到3 d图形(如连接器及其组成部分和内部结构和精确测量他们轻松和速度。
与扫描电子显微镜不同的是,VHX系列不需要费时的观察和分析样品制备的表面。

VHX系列也配备了许多其他的功能除了那些在这里介绍。附加产品信息或查询,请点击下面的按钮。