测量系统基本知识
直接和间接测量
尺寸测量有两种方法:直接测量和间接测量。直接测量是用游标卡尺、千分尺、坐标测量机等测量仪器直接测量目标的尺寸。这些测量也被称为绝对测量。测量可以在测量仪器刻度所指定的范围内进行，但也有可能由于刻度读数错误而导致测量错误。
在间接测量中，尺寸是用测量仪器来测量的，例如千分表，它可以观察目标和参考设备(如量块和环规)之间的差异。这些也被称为比较测量，因为比较是使用具有标准尺寸的对象进行的。参考器件的形状和尺寸越预先确定，测量就越容易。但该方法也存在测量范围有限的缺点。
- 一个
- 目标
- B
- 量块
