选择测量系统
通过应用选择
长度测量
统治者，卷尺和规格块通常用于测量制造地点的长度。长尺度用于长度为几米的目标。为了执行更精确的测量，使用诸如Vernier Caper，拨号仪和微米等仪器。
角度测量
半圆形偏移量对于以单位为单位进行测量。斜角伸缩剂和光学比较器用于以arcminutes为单位测量。称为正弦棒的测量仪器可用于以弧形秒为单位的更精确测量。通过使用角度计或自动调用器，还可以执行以弧形单元的测量。
工程师的正方形和方块测试仪是用于检查垂直性的工具。
钻孔直径测量
游标卡尺用于测量物体中的孔的直径。还有专用的内径测量仪器。
管微米，圆筒仪表，小直径测量仪器和插头仪用于测量具有大直径的环形目标。电子微米和空气微米用于执行更精确的测量。
测量仪器如光学比较器，工业显微镜和图像尺寸测量系统在需要精确的光学测量时是有用的。
坐标测量
偏离中心游标卡尺，孔间距仪表，高度仪和销仪表用于测量坐标，例如工件中的孔位置。
如果需要精确的光学测量，则测量仪器如光学比较器，工业显微镜，2D / 3D测量仪器和图像尺寸测量系统是有用的。标准光学干涉仪用于超精密测量，例如半导体。
