多传感器测量系统LM-X系列

新高精度光学、激光和探针测量系统

采取“place-and-press测量”更上一层楼。

LM-X系列——多传感器测量系统

高精度测量(±0.1µm)可以很容易就把舞台上的部分,按一个按钮。三种测量方法可用:高精度图像测量,通过多色激光非接触式测量高度,通过触摸探针接触测量。这个产品可以大大减少复杂零件的尺寸测量时间,确保准确的测量结果之间没有差异,不同的运营商。

部件的位置和方向放置在舞台上被自动检测到。这消除了需要传统劳动密集型定位,创建坐标和定位夹具做准备。

高度精确的测量沿X、Y和Z轴。

快,同时测量是可行的,即使多个部分放置在舞台上。也没有需要使用固定夹具。

大舞台最大测量面积175×325毫米ø6.89“×12.80”和工作的高度75毫米2.95”。新的设计减少了电机之间的摩擦和饲料螺丝尽可能允许快速和稳定的测量没有固定的部分。