3D干扰测量传感器
WI-5000系列
3D干扰测量传感器WI-5000系列
WI-5000系列3D干扰测量传感器在仅0.13秒内捕获最多10×10毫米（0.39“×0.39”）的目标区域的3D图像。传感器同时记录过度的80,000高度数据点，以执行高精度，高精度测量高度，共面，甚至表面粗糙度（SA和SZ）。通过利用白光干涉测量来捕获图像，传感器可以采用同轴表面测量，消除防止在凹槽和其他具有锋利高度的形状中测量的死区。测量原理在几乎任何表面类型上都可以精确，可重复的3D测量，包括透明或镜像目标。虽然其速度使其成为内联测量的理想选择，但也可以提供可调节的支架，允许用户在内联和离线检查中使用相同的快速自动测量值。
非接触式粗糙度测量
介绍了WI-5000系列3D干扰测量传感器，用于即时表面高度测量。在线和表面粗糙度执行内联测量。
- 表面粗糙度(Sa /深圳)
- 线粗糙度（RA / RZ）
特征
区域测量，不是点或线测量
立即测量80000点，在最大测量面积为10×10 mm0.39“×0.39”。利用白光干涉测量法的原理，WI-5000系列不受材料类型，颜色或盲点的影响，允许高精度，微米级测量。
高速100％内联测量
为了测量多个点，传感器必须快速准确地扫描目标。这样做需要移动舞台，这使得检查非常耗时。通过WI-5000系列，在表面上进行测量，显着降低测量时间并启用100％检查。
简化了离线检查，以显着减少劳动时间
专用支架固定传感器头可用于离线检查。各种其他功能专门用于劳动力时代的显着减少。从简单测量到数据存储，WI-5000系列在各种设置中提高了工作效率。