3 d表面分析器
VK-X3000系列
3 d表面分析器VK-X3000系列
VK-X3000三维曲面轮廓仪采用三扫描方式,采用激光共聚焦扫描、变焦和白光干涉测量方法,可以对任何目标进行高精度测量和分析。VK-X3000的分辨率为0.01 nm,可以扫描高达50 x 50 mm(1.97“x 1.97”)的区域,允许测量目标的整体形状,同时仍然保持高分辨率,以分析细微的表面特征。KEYENCE的新3D表面轮廓仪可以处理任何目标,包括那些透明或镜像表面,大的高度变化,或陡峭的角度。
特性
光学性能分析基础知识
观察
广泛的放大范围,从光学显微镜到电子显微镜
- 放大倍数达28,800倍
- 自动聚焦
- 观察任何材料
测量
瞬间,非接触面扫描
- 没有目标的伤害
- 精确测量微小
- 与任何形状或材料兼容
分析
前所未有的表面特征
- 量化甚至最详细的形状
- 区分表面容易
- 粗糙度分析
不受材料和形状影响的精确扫描
- 精确测量陡峭的斜坡和角度表面
- 最佳的XY分辨率确保即使是最小的功能被捕获
- 在透明或高反射表面上没有数据丢失
高分辨率彩色观测捕捉真实的图像
- 材料的纹理、形状和其他表面条件都清晰地显示出来
- 彩色图像使立即确定测量位置成为可能
- 高达28,800x的高倍成像提供了额外的分析能力
292不同的测量工具允许卓越的表面分析
一个系统可以进行从轮廓测量到粗糙度表征的各种分析。
测量平整和不平整的表面
毫米,微米和纳米测量在一个设备。