精确扫描,不受材料和形状的影响

  • 精确测量陡峭的斜坡和倾斜的表面
  • 一流的XY分辨率可以确保捕获最小的特性
  • 在透明或高反射表面上没有数据丢失

高分辨率的彩色观察捕捉到真实的图像

  • 材料的纹理,形状和其他表面条件清楚显示
  • 彩色图像可以立即确定测量的位置
  • 高倍成像高达28,800倍提供额外的分析能力

292种不同的测量工具允许无与伦比的表面分析

一个系统可以进行从轮廓测量到粗糙度表征的多种分析

测量平坦和不平坦的表面

毫米,测微计,在一个设备中进行纳米测量

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