精确扫描不受材料和形状的影响

  • 准确测量陡峭的斜坡和角度表面
  • 一流的XY分辨率可确保即使捕获最小的功能
  • 没有透明或高度反射表面上的数据辍学

高分辨率颜色观察捕获了真实的图像

  • 明确显示了材料质地，形状和其他表面条件
  • 颜色图像使得能够立即确定在哪里测量
  • 高磁化成像高达28,800X提供其他分析功能

292不同的测量工具可以进行无与伦比的表面分析

一个系统可实现从剖面测量到粗糙度表征的各种分析

测量平坦和不平坦的表面

毫米，千分尺和一台设备中的纳米测量

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