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利用缺陷去除函数稳定测量TM-X5000系列

远心测量系统根据目标的轮廓对目标进行检测和测量。在基于图像的测量中，缺陷和表面异常会导致误差。使用TM-X5000，缺陷可以忽略或检测到每个输出，稳定的测量结果。

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TM-X5000系列远心测量系统目录[PDF:5.45MB]