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在一个微米内的高速平面检查

Duhamel DTI设计了一种用于测试电气接触器的磁路的替补,该电接触器通过KEYENCE使用LJ-G系列2D激光位移传感器。由此产生的表现非常 - 每小时4,000至5,000次,微米水平精度为4,000次。

Duhamel DTI是一家工程公司,位于法国阿尔卑斯山脚下的格勒诺布尔附近的Domène。其高度多学科的团队设计系统,如试验台和检测设备。Duhamel DTI开发了一种用于检测电接触器磁极平面度的高速测量系统。这些测量必须非常准确,即使是最轻微的缺陷也会引起“嗡嗡声”或接触器故障。

传统的方法包括使用超声波传感器,但这些需要在油浴中进行测量,这是非常繁琐的,特别是在所需的速度。此外,它需要许多调整,损害测量的清晰度和稳定性。

“我们希望提供一种新的和更可靠的技术,我们冒着不受可受油膜影响的激光系统的风险,这些激光系统可以在磁路的极点上找到。因此,我们必须妥善了解并提供所有保证的解决方案,“Duhamel Dti的业务经理Jean-Pierre Bochet说。

该概念包括使用四个LJ-G传感器来获得四个“测量线”,用于导出四个测量段,用于检查电极和四个测量段,用于检查杆间隙。每个所得到的接触器轮廓由500个测量点组成,用于用最小二乘法模拟平坦度。将所有测量与在系统中预先记录的主档案进行比较。“它在准确分析了零件的表面质量方面是有效的,”BOONET说。

“市场上大多数激光器设备的困难是他们的操作是不透明的。预处理步骤不会给出结果的任何指示。威斯的位移传感器更清晰,更灵活。模拟输出提供原始数据,这使得分析更简单,更准确。我们确切地知道我们得到了什么。操作参数也是如此。

例如,在KEYENCE中,采样速度以毫秒为单位。然而,在竞争中,只有“OK”或“NG”信号。KEYENCE也是我们喜欢合作的少数几家公司之一。其他公司倾向于强加他们的解决方案,但我们与KEYENCE的关系是一种信任和合作。”

LJ-G5000是一种2D激光位移传感器。它具有独特的E3-CMOS(增强型眼仿真CMOS)传感器,其动态范围比传统传感器宽300倍。这使LJ-G5000无与伦比的测量稳定性,即使具有复杂的表面,如弹性体和金属。E3-CMOS还复制了人眼的调节功能,并在暗或过亮的区域创建了完整的表面轮廓的数字复制。

此外,MFL函数调整CMOS灵敏度,激光强度和曝光时间(越越深,采样时间越长,反之亦然)。具有常规传感器的常规解决方案平均测量以补偿缺乏稳定性。这种技术不仅要准确,还需要超过15倍的采样时间。结果,LJ-G的性能是其自身 - 1μm重复性的类别和3.8 ms的采样率。

“你在产品说明书上看到的都是真的。LJ-G不仅提供了精确的测量,它达到了0.5微米的精度。我们应用的测量周期时间为150 - 250毫秒,我们认为只有LJ-G才有可能达到这样的速度。自从投入使用以来,我们的试验台一直在24小时工作,没有任何测量误差。”Bochet说。

Duhamel DTI设计了整个试验台和先进的高速输送系统,可以准确定位待检查的部件。该公司为最大的品牌设计创新的在线检测解决方案和电子系统。Duhamel DTI一半的系统安装在法国以外。

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