微头光谱干涉激光位移仪
SI-F系列
微头光谱干涉激光位移仪SI-F系列
特性
超高分辨率1nm
光谱干涉方法，使1纳米分辨率。
头部变化，扩大可能的测量范围
该阵容包括超小型，远程，和其他专门的头，以匹配各种应用。
消除测量误差的原因
测量头仅由光纤和透镜组成，没有电子部件。
停止
微头光谱干涉激光位移仪
SI-F系列
光谱干涉方法，使1纳米分辨率。
该阵容包括超小型，远程，和其他专门的头，以匹配各种应用。
测量头仅由光纤和透镜组成，没有电子部件。