平面轮廓公差的测量
当测量平面的轮廓公差，你正在检查一个设计零件的曲面是否按指定的设计制作。
不像线的轮廓公差，平面轮廓公差的测量涉及到整个规定的曲率。
样品图纸
使用剖面测量系统
- 一个
- 目标
- b
- 剖面测量系统
将触控笔放在目标的测量起点上，指定要测量的测量长度。
系统利用实测数据和系统中注册的理论上正确的数据进行分析，并输出P/V值(最大值和最小值，以及理论上正确的特征值的标准差σ)。
缺点
由于触针的移动范围有限，测量大的目标可能是困难的。
触控笔也不能输入位于难以触及位置的测量点。
触头的负载(测量压力)会使测量表面发生变形，从而导致测量结果的误差。
三坐标测量机的应用
- 一个
- 目标
- b
- 平板
笔尖的位置可以改变，以测量目标在任何角度或任何位置。
由于触控笔只与测量点接触光，所以不需要考虑触控笔的负载(测量压力)对测量表面造成的变形。
此外，这使得快速、稳定的测量和高精度。
- 测量屏幕
-
- 一个
- 型材公差测量结果
